Микроструктура материалов: Методы исследования и контроля: Учебник /Пер. с англ. (Серия: 'Мир материалов и технологий')
|
159 руб.
|
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения.
Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и элект нной микро копии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встро енные в новейшие модели электронных микроскопов.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.