Основы сканирующей зондовой микроскопии: Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений (Серия "Мир физики и техники") II. 02
|
260 руб.
|
Первое учебное пособие на русском я зыке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силов микроскоп в. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности прим енения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.